BS ISO 20411:2018
表面化學(xué)分析二次離子質(zhì)譜分析單離子計(jì)數(shù)動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜飽和強(qiáng)度校正方法

Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry

適用范圍: 范圍本文件規(guī)定了在脈沖計(jì)數(shù)磁扇形二次離子質(zhì)譜儀或四極二次離子質(zhì)譜儀中確定強(qiáng)度尺度線性可接受偏差極限的最大計(jì)數(shù)率的方法。它使用基于參考材料中兩種同位素深度剖面分析的測(cè)試，該參考材料在低濃度和高濃度范圍之間具有逐漸的濃度變化。它還包括對(duì)探測(cè)器死區(qū)時(shí)間引起的飽和強(qiáng)度的校正方法。校正可以增加 95% 線性度的強(qiáng)度范圍，以便對(duì)于相關(guān)校正方程已被證明有效的那些光譜儀可以采用更高的最大計(jì)數(shù)率。本文件不適用于飛行時(shí)間質(zhì)譜儀。本文件僅適用于含有少量同位素的元素。如果元素是單一同位素或含有相同豐度的同位素，則不適用。

術(shù)語(yǔ)	描述
主要同位素 Major Isotope	同位素中豐度高于其他同位素的同位素。
次要同位素 Minor Isotope	同位素中豐度低于主要同位素的同位素。
脈沖計(jì)數(shù)系統(tǒng) Pulse Counting System	離子探測(cè)器系統(tǒng)，將每個(gè)離子計(jì)數(shù)為單個(gè)脈沖。
中等強(qiáng)度區(qū)域 Medium Intensity Region	主要同位素強(qiáng)度仍為線性且次要同位素強(qiáng)度顯著高于背景的強(qiáng)度區(qū)域。
飽和 Saturation	當(dāng)過(guò)多離子同時(shí)到達(dá)探測(cè)器時(shí)，其脈沖重疊，探測(cè)器無(wú)法分離單個(gè)脈沖的現(xiàn)象。
近似中間擴(kuò)展死時(shí)間模型 Approximate Intermediate Extended Dead Time Model	用于探測(cè)器飽和的模型。

二次離子質(zhì)譜儀磁扇形或四極型	用于測(cè)量二次離子信號(hào)強(qiáng)度的儀器，適用于動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜分析。